IV测试，即 电流-电压（Current-Voltage）测试，是一种重要的电子测量技术，用于评估电子元件或电路的电流-电压特性。该测试通过在元器件上施加不同的电压并测量其对应的电流值，来研究元器件的电学性能和特性。IV测试的原理基于欧姆定律和基尔霍夫电压定律，这两个定律描述了电流和电压之间的关系。
在IV测试中，测试设备会向被测元器件施加不同的电压，然后测量对应的电流值。通过记录这些电压和电流的值，可以绘制出被测元器件的I-V曲线。通过分析这条曲线，可以了解元器件的电阻、电容、反向电流等参数，从而评估其性能和特性。
IV测试在多个领域都有广泛应用，例如在芯片失效分析中，IV测试可以帮助确定芯片是否存在短路或开路故障，并评估晶体管等核心元件的性能。在光伏电池和组件的测试中，IV测试用于评估电池的转换效率、功率输出等关键参数，以及组件在不同光照条件下的性能表现。
此外，IV测试也是工程验证（EVT）的一部分，用于在产品开发初期对设计样品进行全面的功能和安全测试。在集成电路行业，IV曲线测试是验证和测量半导体电子组件电性、参数及特性的重要手段，通常在非破坏性分析的第二步进行。
综上所述，IV测试是一种基本的电子测量方法，通过测量电流和电压之间的关系，可以有效地评估电子元件和电路的性能，帮助工程师选择合适的元器件，设计高效的电路和系统。