电子考研832的考试科目是 微电子器件。该考试主要考察学生掌握“微电子器件”的基本知识、基本理论的情况，以及用这些基本知识和基本理论分析问题和解决问题的能力。
具体考试内容如下：
半导体器件基本方程：
包括物理意义、一维形式的半导体器件基本方程、基本方程的主要简化形式等。
PN结：
涉及突变结与线性缓变结的定义、PN结空间电荷区的形成、耗尽近似与中性近似、耗尽区宽度、内建电场与内建电势的计算、正向及反向电压下PN结中的载流子运动情况、PN结的能带图、PN结的少子分布图、PN结的直流伏安特性、PN结反向饱和电流的计算及影响因素、薄基区二极管的特点、大注入效应、PN结雪崩击穿的机理、雪崩击穿电压的计算及影响因素、齐纳击穿的机理及特点、热击穿的机理、PN结势垒电容与扩散电容的定义、计算与特点、PN结的交流小信号参数与等效电路、PN结的开关特性与少子存储效应等。
建议考生根据参考书目和真题进行系统复习，重点掌握半导体器件的基本理论和应用，同时关注与电子信息技术相关的社会热点和实际应用。